外媒报导，一项新研究指出，比起现行的产前检查，简单的抹片检查未来可望更早发现胎儿先天缺损。

底特律的韦恩州立大学研究人员2日说，他们可从妇女怀孕初期接受抹片检查的检体细胞中，找到足够的胎儿DNA，检验是否有基因异常。

这项新研究的规模相当小，还需做更多研究才能进一步证实，但如果此法奏效，研究人员说，未来妇女可早在怀孕五周时，就以非侵入性的抹片检查，确认更多基因异常状况。